少子寿命测量仪 美国Sinton BCT-400

是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命，并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值，可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量，并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。

BCT-400 设备将为光伏客户生产高质量太阳能级 单晶硅片提供有力的质量保证手段。

BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.

因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。

作为最易于使用的测量工具－－BLS，只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话，请选择BCT-400。

产品简述：

1.用途（高频光电导），用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

2.设备组成

1）．BCT-400主机，信号接线盒及信号线

2）．含带通滤光片的探头闪光灯

3）．安装配置有如下软件的计算机系统: Windows updates

4）．Sinton 数据采集及分析软件包

5）．12Bit 数据采集卡

经典用户：

中环、晶科能源、弘元新材料、隆基绿能、晶澳新能源、天合集团、红太阳、美科能源、协鑫能源、通威股份、美科新能源；