产品介绍

WT-1200IL是一项基于涡流光电导衰减的体寿命单点测试技术，主要针对不加钝化的硅棒和硅块。

优势&总体要求

a)        快速无损检测

b)        结构紧凑、操作方便

c)         使用1064nm 红外光源作为激发源

d)        有效排除表面复合的影响

e)        与表面钝化样品的μ-PCD有良好相关性

f)         适合高寿命应用场合

g)        独特的寿命模型以弥补扩散寿命损失

h)        软件具备灵活的校准功能，便于对测量结果进行必要的调整

i)          在测量原生晶棒断面和测量钝化工艺处理后的样品结果之间保持良好的一致性

j)          寿命测试结果符合基于氧缺陷（顶部）和金属缺陷影响的硅棒理论寿命衰减趋势